土壤剖面测量一直是从事环境研究和环境监测人员十分关注的问题。如今，测量技术和结构设计的进步令土壤剖面测量获得了长足的发展。

当前测量方法所面临的挑战

长期以来，通过开挖土壤并在不同深度下从侧面横向插入安装多个传感器被认为是获取土壤剖面水分的最佳方式。然而，该方法却存在多个明显的局限性：

• 首先，安装费时费力；

• 可能需要动用大型机械；

• 将破坏土壤原状。

      土壤剖面传感器通过集成多个传感器，可以实现不同深度下的土壤剖面测量。但是，此类传感器往往具有以下重大缺陷：

• 传感器可能与土壤接触不佳，从而引入测量误差；

• 水流将沿传感器外侧更快地入渗到深层土壤中( 土壤优势流)，这也将影响测量结果。

应对技术挑战

针对以上技术难题，SoilVUE ™ 10 在传感器结构和电路设计以及测量方法上进行创新，这将是土壤剖面测量技术上的重大进步。

传感器结构设计

 SoilVUE ™ 10 通过结构设计解决了扰动土壤、土壤接触和优势流这三大问题。与其它土壤剖面传感器类似，安装SoilVUE ™ 10 时只需预先钻孔即可，从而尽可能地避免对土壤原状的干扰。与其它传感器不同的是，SoilVUE ™ 10 采用了独特的螺纹设计。安装时，螺纹将嵌入到安装孔中，这样做的好处是：

• 测量的探针复合在螺纹中，充分保证与土壤间的紧密接触；

• 减慢甚至消除土壤优势流。

传感器电路设计以及测量方法

在过去，完整的TDR 设备通常十分复杂而且价格昂贵，其具体涉及波形采样点的数量、确定两次反射点的算法以及消除信号噪声或平滑波形的机制等参数。例如我们的TDR200 时域反射计可供用户根据实际需要，灵活调整以上参数。

SoilVUE ™ 10 作为专用的土壤剖面传感器并不需要这些灵活性。相反的是，SoilVUE ™ 10 通过出厂前的标定将上述参数进行优化，使得传感器在测量时一直能获得准确的TDR 信号传导时间。

结论

SoilVUE ™ 10 土壤剖面水分传感器基于TrueWave ™ TDR 技术，通过创新的结构和电路设计以及测量方法的革新，解决了目前土壤剖面测量中面临的一系列难题。